Avaliação dos Artefatos Gerados por um Dispositivo Portátil de XRF Comercial e sua Influência na Análise de Obras de Arte

Avaliação dos Artefatos Gerados por um Dispositivo Portátil de XRF Comercial e sua Influência na Análise de Obras de Arte

Autores

DOI:

https://doi.org/10.5433/1679-0375.2025.v46.52708

Palavras-chave:

fluorescência de raios X portátil, caracterização instrumental, arqueometria, interferências espectrais

Resumo

Este estudo investiga a origem e o impacto das interferências espectrais associadas ao espectrômetro portátil de fluorescência de raios X (pXRF) Bruker Tracer III, utilizado pelos autores na caracterização elementar de objetos do patrimônio cultural. Foram realizadas análises sistemáticas em materiais de referência e na escultura Cabeça de Apolo da Casa Museu Eva Klabin, Rio de Janeiro, permitindo a identificação de picos instrumentais e aprimorando a precisão das análises qualitativas pela minimização das interferências derivadas do instrumento. As medições foram realizadas em condições controladas, com e sem o escudo de proteção contra radiação do espectrômetro, utilizando parâmetros operacionais fixos (40 kV, 35 μA e 60 s). Os~espectros resultantes revelaram picos atribuíveis aos componentes estruturais do instrumento. Com o escudo em posição, foram detectados elementos como Ca, Ti, Fe, Ni, Cu, Zn e Pb. Na ausência do escudo, os picos correspondentes a Ca, Zn e Pb foram suprimidos, embora as interferências dos demais elementos tenham persistido.

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Biografia do Autor

Roberta Manon de Paula Sales Borges, Universidade Federal do Rio de Janeiro

Estudante de doutorado no Programa de Engenharia Nuclear da UFRJ

Josiane Emerich Cavalcante, Universidade Federal do Rio de Janeiro

Estudante de doutorado do Programa de Engenharia Nuclear da UFRJ

Isis Verona Nascimento da Silva Franzi, Universidade Federal do Rio de Janeiro

Pesquisadora em nível de Pós-doutorado em Engenharia Nuclear na UFRJ

Anderson Gomes de Paula, Universidade Federal do Rio de Janeiro

Pesquisador em nível de Pós-doutorado em Engenharia Nuclear na Universidade Federal do Rio de Janeiro

Evelyne Azevedo, Universidade do Estado do Rio de Janeiro

Prof. Dr. do Instituto de Artes da Universidade do Estado do Rio de Janeiro

Ricardo Tadeu Lopes, Universidade Federal do Rio de Janeiro

Prof. Dr. do Programa de Engenharia Nuclear da UFRJ

Davi Ferreira de Oliveira, Universidade Federal do Rio de Janeiro

Prof. Dr. do Programa de Engenharia Nuclear da UFRJ

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Publicado

2025-07-31

Como Citar

Borges, R. M. de P. S., Cavalcante, J. E., Franzi, I. V. N. da S., Paula, A. G. de, Azevedo, E., Lopes, R. T., & Oliveira, D. F. de. (2025). Avaliação dos Artefatos Gerados por um Dispositivo Portátil de XRF Comercial e sua Influência na Análise de Obras de Arte. Semina: Ciências Exatas E Tecnológicas, 46, e52708. https://doi.org/10.5433/1679-0375.2025.v46.52708

Edição

v. 46 (2025)

Seção

Arqueometria (seção especial)

Licença

Copyright (c) 2025 Roberta Manon de Paula Sales Borges, Josiane Emerich Cavalcante, Isis Verona Nascimento da Silva Franzi, Anderson Gomes de Paula, Evelyne Azevedo, Ricardo Tadeu Lopes, Davi Ferreira de Oliveira

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