Análise Comparativa de PIXE e pXRF de um Simulado de Pintura em Tela
DOI:
https://doi.org/10.5433/1679-0375.2023.v44.47604Palavras-chave:
pXRF, PIXE, tela, pintura, pigmentosResumo
Para fins de comparação entre diferentes equipamentos e laboratórios envolvidos em metodologias atômico-nucleares aplicadas em artes e arqueometria, foi confeccionado um mimético em tela com dezenas de pigmentos de cores diferentes e vernizes de diferentes tipos e fabricantes, com o objetivo de avaliar dois diferentes equipamentos de XRF e a metodologia PIXE como ferramentas complementares para examinar pinturas em tela. Vinte e quatro substâncias inorgânicas deste mimético foram medidas em três laboratórios diferentes, LEC, LFNA e LAMFI para a identificação dos elementos-chave. No presente artigo, são mostradas razões de contagem líquida e desvios percentuais padrão entre linhas, bem como exemplos de sensibilidade para elementos de baixo teor que podem ser usados para distinguir pigmentos, e também uma comparação da penetração dessas técnicas. Os resultados mostram as diferenças entre as metodologias pXRF e PIXE e também entre as duas geometrias/equipamentos pXRF empregados.
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