Análise de Telas Ovais Atribuídas ao Pintor Leandro Joaquim Utilizando XRF e MA-XRF

Análise de Telas Ovais Atribuídas ao Pintor Leandro Joaquim Utilizando XRF e MA-XRF

Autores

DOI:

https://doi.org/10.5433/1679-0375.2025.v46.52832

Palavras-chave:

análise de pigmento, XRF, MA-XRF, PCA

Resumo

Três pinturas atribuídas ao artista brasileiro Leandro Joaquim (1738–1798) foram analisadas in situ por meio das técnicas de Fluorescência de Raios X (XRF) e Macro Mapeamento Elementar por Fluorescência de Raios X (MA-XRF). As obras pertencem ao acervo do Museu Histórico Nacional do Rio de Janeiro e retratam paisagens da cidade no período colonial. Devido às semelhanças compositivas e estéticas, as pinturas vêm sendo tratadas como uma coletânea. As análises revelaram a presença de pigmentos como branco de chumbo (2PbCO3 .Pb(OH)2, terra verde (K(Al,Fe 3+), (Fe2+,Mg)O10 (OH)2), sombra natural (Fe2O3 + MnO2) e vermelhão (HgS) em todas as pinturas. Verificou-se ainda que todas as obras utilizam, como camada de preparação, um pigmento à base de chumbo. Para aprofundar a investigação sobre as similaridades entre as pinturas, os dados de XRF foram submetidos à Análise de Componentes Principais (PCA), a qual confirmou a semelhança na composição elementar entre as obras. Os resultados sugerem que as pinturas foram realizadas com materiais e técnicas compatíveis, reforçando a hipótese de autoria comum e de produção em um mesmo contexto histórico e técnico.

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Biografia do Autor

Ana Leticia Castro de Oliveira, Instituto Federal do Rio de Janeiro

Doutoranda, Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ), Laboratório de Instrumentação e Simulação Computacional (LIETA), Instituto de Física, Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ), Rio de Janeiro, Brasil.

Renato Pereira de Freitas, Instituto Federal do Rio de Janeiro

Professor e Pesquisador, Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ), Laboratório de Instrumentação e Simulação Computacional, Rio de Janeiro, Brasil.

André Rocha Pimenta , Instituto Federal do Rio de Janeiro

Professor e Pesquisador, Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ), Laboratório de Instrumentação e Simulação Computacional, Rio de Janeiro, Brasil.

Valter de Souza Felix, Instituto Federal do Rio de Janeiro

Professor e Pesquisador, Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ), Laboratório de Instrumentação e Simulação Computacional, Rio de Janeiro, Brasil.

Monica Grôppo Parma, Universidade Federal de Minas Gerais

Doutoranda, Departamento de Química, Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG), Belo Horizonte, Brasil.

Isolda Maria de Castro Mendes, Universidade Federal de Minas Gerais

Professora e Pesquisadora, Departamento de Química, Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG), Belo Horizonte, Brasil.

Marcelino José dos Anjos, Universidade do Estado do Rio de Janeiro

Professor e Pesquisador, Instituto Federal do Rio de Janeiro (IFRJ), Laboratório de Instrumentação e Simulação Computacional (LIETA), Instituto de Física, Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ), Rio de Janeiro, Brasil.

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Publicado

2025-09-12

Como Citar

Oliveira, A. L. C. de, Freitas, R. P. de, Pimenta , A. R., Felix, V. de S., Parma, M. G., Mendes, I. M. de C., & Anjos, M. J. dos. (2025). Análise de Telas Ovais Atribuídas ao Pintor Leandro Joaquim Utilizando XRF e MA-XRF. Semina: Ciências Exatas E Tecnológicas, 46, e52832. https://doi.org/10.5433/1679-0375.2025.v46.52832

Edição

v. 46 (2025)

Seção

Arqueometria (seção especial)

Licença

Copyright (c) 2025 Ana Leticia Castro de Oliveira, Renato Pereira de Freitas, André Rocha Pimenta , Valter de Souza Felix, Monica Grôppo Parma, Isolda Maria de Castro Mendes, Marcelino José dos Anjos

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