Caracterização química de SRM de argilas por fluorescência de raios X – comparação de resultados de diferentes laboratórios.
DOI:
https://doi.org/10.5433/1679-0375.2009v30n2p145Palavras-chave:
Fluorescência de raios X, Portátil, Argila, Solo.Resumo
Foram comparados dois equipamentos de Fluorescência de Raios X por Dispersão em Energia (EDXRF) de modo a verificar sua performance na caracterização de argilas e potenciais aplicações em estudos nos campos de arqueometria e na industria. Dois materiais de referencia padrão (standard reference materials – SRM) de argilas, IPT-42 e IPT-51 e uma amostra de intercomparação da IAEA foram analisados por duas metodologias e equipamentos diferentes. O laboratório do Asentamiento Universitario Zapala possui um equipamento de bancada Shimadzu EDX-800HS e quantificou 13 elementos nos padrões, do S ao Zr. O Laboratório de Física Nuclear Aplicada tem um sistema portátil de EDXRF, possibilitando quantificar K, Ti e Fe e identificar qualitativamente Mn, Rb, Zn e Zr.
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