Caracterização e análise da produção técnica no Brasil
um estudo baseado em registros de patentes
DOI:
https://doi.org/10.5433/1981-8920.2022v27n3p380Palavras-chave:
Plataforma Lattes, Patentes, Bibliometria, PatentometriaResumo
Objetivo: apresentar um retrato dos registros de patentes cadastrados na base curricular da Plataforma Lattes do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico.
Metodologia: Inicialmente, é apresentado o processo de seleção, extração e organização dos currículos coletados. Posteriormente, o tratamento dos números de depósito e sua validação junto a registros de repositórios internacionais de patentes, com ao Espacenet. E por fim, a caracterização do conjunto de dados coletado e validado.
Resultados: Foi possível obter um panorama dos registros de patentes nos currículos da Plataforma Lattes, como as áreas do conhecimento mais representativas no depósito de patentes, bem como uma visão geral dos seus proponentes.
Conclusões: Os indicadores levantados destacam que a Plataforma Lattes além de informações científicas, possui informações tecnológicas, que podem ser recuperadas e utilizadas como subsídios para pesquisas sobre o desenvolvimento tecnológico. Evidenciando a participação ativa das instituições de ensino superior no desenvolvimento tecnológico nacional.
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Referências
AMADEI, J. R. P.; TORKOMIAN, A. L. V. As patentes nas universidades: análise dos depósitos das universidades públicas paulistas (1995-2006). Ciência da Informação, Brasília, v. 38, n. 02, p.9-18, 2009. Disponível em: https://revista.ibict.br/ciinf/article/view/1241. Acesso em: 11 nov. 2022. DOI: https://doi.org/10.1590/S0100-19652009000200001
CATIVELLI, A. S. Patentes das Universidades Públicas Brasileiras: Análise das Concessões. 2016. 173 f. Dissertação (Mestrado Profissional em Gestão de Unidades de Informação) — Universidade do Estado de Santa Catarina, Florianópolis, 2016.
CÍRICO JUNIOR, A.; KÜHL, M. R. Análise das inovações tecnológicas aplicáveis nas ciências contábeis: Um olhar a partir da bibliometria e patentometria no período 2005-2019. Brazilian Journal of Development, São José dos Pinhais, v. 6, n. 12, p. 94465-94491, dez. 2020. Disponível em: https://ojs.brazilianjournals.com.br/ojs/index.php/BRJD/article/view/20973. Acesso em: 11 nov. 2022. DOI: https://doi.org/10.34117/bjdv6n12-058
DIAS, T. M. R. Um Estudo da Produção Científica Brasileira a partir de Dados da Plataforma Lattes. 2016. 181 f. Tese (Doutorado em Modelagem Matemática e Computacional) - Centro Federal de Educação Tecnológica de Minas Gerais, Minas Gerais, 2016.
FRANÇA, R. O. Patente como fonte de informação tecnológica. Perspectivas em Ciência da Informação, Belo Horizonte, v. 2, n. 2, 2007. Disponível em: https://periodicos.ufmg.br/index.php/pci/article/view/23241. Acesso em: 11 nov. 2022.
HEFEI QINGZHUO INFORMATION TECHNOLOGY (HQIT). A patent database management analysis method. CN106407394A. Depósito: 19 set. 2016. Publicação: 15 fev. 2017. China: Hefei Qingzhuo Information Technology Co. Ltd, 2017.
INSTITUTO NACIONAL DA PROPRIEDADE INDUSTRIAL (INPI). [S. l.: s. n.], 2021. Disponível em: https://www.gov.br/inpi/pt-br. Acesso em: 16 mar. 2022.
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES (IBM). Processing Large Machine Learning Datasets. Depósito: 8 nov. 2020. Publicação: 10 fev. 2022. US2022075761A1. [S. l.]: International Business Machines Corporation, 2022.
MENDES, M. L. S; MELO, D. R. A. Avaliação tecnológica: uma proposta metodológica. Revista de Administração Contemporânea, Maringá; Curitiba, v. 21, n. 4., p. 569-584, 2017. Disponível em: https://www.scielo.br/j/rac/a/Hb3HpXPBq4XZDFtLmC74RMh/abstract/?lang=pt. Acesso em: 30 jun. de 2021. DOI: https://doi.org/10.1590/1982-7849rac2017170047
MENEZES, M. S. Estudo patentométrico relacionado à terapia de Tuberculose pulmonar. 2019. 98 f. Dissertação (Mestrado Profissional em Gestão, Pesquisa e Desenvolvimento na Indústria Farmacêutica) — Fundação Oswaldo Cruz, Rio de Janeiro, 2019. Disponível em: https://www.arca.fiocruz.br/handle/icict/37031. Acesso em: 11 nov. 2022.
NANJING CHUQING ELECTRONIC TECHNOLOGY (NCET). Management method for classifying patent files by using dates. 2019. Depositante: Nanjing Chuqing Electronic Technology. CN110309384A. Depósito: 8 set. 2019. Publicação: 8 dez. 2019. [S. l.]: Nanjing Chuqing Electronic Technology, 2019.
NASCIMENTO, M. G. Raphael da S.; SPEZIALI. Patentometria: a utilização de dados contidos em patentes como mecanismo de análise da predominância tecnológica dos nits. In: ENCONTRO INTERNACIONAL DE GESTÃO, DESENVOLVIMENTO E INOVAÇÃO, 4., 2020. Naviraí. Anais [...]. Naviraí: Universidade Federal de Mato Grosso do Sul, 2020. Disponível em: https://periodicos.ufms.br/index.php/EIGEDIN/article/view/11705. Acesso em: 11 nov. 2022.
ORGANIZAÇÃO MUNDIAL DA PROPRIEDADE INTELECTUAL (WIPO). Sistema de Classificação de patentes. [S. l.: s. n.], 2020. Disponível em: http://ipc.inpi.gov.br/classifications/ipc/ipcpub/?notion=scheme&version=20200101&symbol=none&menulang=pt&lang=pt&viewmode=f&fipcpc=no&showdeleted=yes&indexes=no&headings=yes¬es=yes&direction=o2n&initial=A&cwid=none&tree=no&searchmode=smart. Acesso em: 15 mar. 2020. Disponível em: Acesso em: 11 nov. 2022.
QUONIAM, L.; KNIESS, C. T.; MAZZIERI, M. R. A patente como objeto de pesquisa em ciências da informação e comunicação. Encontros Bibli, Florianópolis, v. 19, n. 39, p. 243-268, abr. 2014. Disponível em: https://periodicos.ufsc.br/index.php/eb/article/view/1518-2924.2014v19n39p243. Acesso em: 11 nov. 2022. DOI: https://doi.org/10.5007/1518-2924.2014v19n39p243
RIBEIRO, S. P. M. J. C.; GARCIA. O estado da arte da patentometria em periódicos internacionais da ciência da informação. In: ENCONTRO BRASILEIRO DE BIBLIOMETRIA E CIENTOMETRIA (EBBC), 4., São Paulo, 2014. Anais [...]. São Paulo: USP, 2014. v. 4. Disponível em: https://brapci.inf.br/index.php/res/v/45400. Acesso em: 22 fev. de 2021.
SANZ-CASADO, E. Los estudios métricos de la información y la evaluación del a actividad científica: conceptos básicos. [Material didático do curso “Os estudos métricos da informação”, ministrado no Programa de Pós-Graduação em Ciência da Informação da ECA/USP]. São Paulo, SP: ECA/USP, 2006.
SCARTASSINI, V. B.; SANTOS, F. B.; GABRIEL JUNIOR, R. F.; MOURA, A. M. M. Estudo patentométrico das patentes brasileiras na via Patent Cooperation Treaty (PCT). In: ENCONTRO NACIONAL DE PESQUISA E PÓS-GRADUAÇÃO EM
CIÊNCIA DA INFORMAÇÃO (ENANCIB), 19., 2018, Londrina. Anais [...]. Londrina: ANCIB, 2018. Disponível em: http://hdl.handle.net/20.500.11959/brapci/102164. Disponível em: Acesso em: 11 nov. 2022.
SILVA, R. R.; DIAS, T. M. R.; CARVALHO SEGUNDO, W. L. R. Um retrato da Produção técnica brasileira: Análise baseada em registros de patentes na Plataforma Lattes. In: ENCONTRO BRASILEIRO DE BIBLIOMETRIA E CIENTOMETRIA (EBBC), 8., São Paulo, SP, 2022. Anais [...]. São Paulo, SP: USP, 2022. v. 8. Disponível em: https://ebbc.inf.br/ojs/index.php/ebbc/article/view/92. Acesso em: 11 nov. 2022.
SOUZA, A. A. A. S. N. et al. Mapeamento de depósitos de propriedade intelectual no INPI por discentes do programa de Pós-Graduação em Ciência da Propriedade Intelectual da Universidade Federal de Sergipe. In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON TECHNOLOGICAL INNOVATION, 11., 2021, Aracajú. Anais [...]. Aracajú: ISTI/SIMTEC, 2021. p. 1524-1533. Disponível em: http://api.org.br/conferences/index.php/ISTI2021/ISTI2020/paper/viewFile/1344/733. Acesso em: 11 nov. 2022.
SPEZIALI, M. G.; NASCIMENTO, R. S. Patentometria: uma ferramenta indispensável no estudo de desenvolvimento de tecnologias para a indústria química. Química Nova, [S. l.], v. 43, n. 10, p. 1538-1548, ago. 2020. Disponível em: https://s3.sa-east-1.amazonaws.com/static.sites.sbq.org.br/quimicanova.sbq.org.br/pdf/AG2020-0224.pdf. Acesso em: 11 nov. 2022.
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